El laboratorio LANE cuenta con un microscopio TEM de emisión de campo Tecnai F30, dotado con modo STEM, detectores HAADF y EDX y filtro de energía (GIF). Las técnicas disponibles incluyen: medidas TEM en campo claro y campo oscuro; TEM de alta resolución; difracción de electrones; análisis STEM-HAADF; análisis EDX y STEM-EDX así como EELS y STEM-EELS, incluyendo medidas puntuales, en línea y mapas composicionales; imágenes EFTEM; análisis espectro-imagen y tomografía electrónica.
Instrumental disponible
- Microscopio Tecnai G2 F30 S-TWIN de 300KV con cañón de emisión de campo. Resolución estructural de 0.2 nm entre puntos, portamuestras de uno y dos giros. Acoplados al equipo se dispone de un detector EDX Silicon Drift Detector X-Max 80T (Oxford Instruments) y un filtro de energías Gatan (GIF Quantum SE)
- Equipamiento adicional en el “laboratorio de preparación de muestras para microscopía electrónica”
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Prestaciones
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Externos | |
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| OPI / AGE / Universidades | Otros | |
| Caracterización Estructural: Microscopìa Electrónica de Transmisión (TEM) |
159,96 (€/hora)
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183,95 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Transmisión: Microanálisis por Dispersión de Energía (EDS)
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159,96 (€/hora)
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183,95 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Transmisión: EELS (Espectroscopia por Pérdida de Energía)
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159,96 (€/hora)
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183,95 (€/hora)
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Microscopía Electrónica de Transmisión: Spectrum Imaging
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159,96 (€/hora) |
183,95 (€/hora)
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| Microscopia Electrónica de Transmisión de Alta Resolución | 159,96 (€/hora) | 183,95 (€/hora) |
| Microscopía Electrónica de Transmisión: Modo STEM/ADF-HAADF | 159,96 (€/hora) | 183,95 (€/hora) |